高加速老化试验箱

产品用途：

高加速老化试验箱广泛适用于IC、PCB、LCD Board、电池、电容、电阻,及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验, 比较传统之恒温恒湿设备85/85%R.H.试验时,

可以节省大量时间, 当测试温度越高, 压力越大,测试时间缩短越多, 在质量检验上大量节省电力, 人力, 物力, 提升产品竞争力.有多种型号可选择。

产品特点：

1. 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在上降低了使用故障率。

2. 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3. 门锁电控制动结构，解决代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

高加速老化试验箱性能

 1.1 设定温度:  +100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸气温度 )

      1.2 湿度范围:  75~100 % 蒸气湿度
      1.3湿度控制稳定度：±3%RH

      1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)

      1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr

      1.5 加压时间:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

      1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃

      1.7 温度显示精度：0.1℃

      1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg

      1.9 湿度分布均度：±3%RH

安全保护：

       a.进口耐高温密封电磁阀，采用双回路结构，保证压力无泄露。

     b.整机配备超压保护，超温保护，一键泄压，手动泄压多重安全保障装置，在上保证用户

       的使用和安全。

     c.反压门锁装置，在试验室内部有压力时，试验箱门无法打开.