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非饱和快速老化试验箱

简要描述:非饱和快速老化试验箱(HAST非饱和高压加速老化试验箱)是一种通过模拟高温、高湿及高压环境,加速材料或产品老化过程的实验室设备,广泛应用于电子、汽车、航空航天等领域,用于评估产品在恶劣环境下的可靠性和耐久性。

  • 产品型号:AP-PCT-40
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-09-18
  • 访  问  量:11

详细介绍

品牌爱佩科技/A-PKJ产地类别国产
应用领域电子/电池,电气

非饱和快速老化试验箱(HAST非饱和高压加速老化试验箱)是一种通过模拟高温、高湿及高压环境,加速材料或产品老化过程的实验室设备,广泛应用于电子、汽车、航空航天等领域,用于评估产品在恶劣环境下的可靠性和耐久性。以下是其核心要点:

一、核心功能与原理

加速老化测试

通过提升温度(通常105℃~155℃)、压力(0.2~3.5kg/cm²)和湿度(65%~100%RH),将数年自然老化过程压缩至数天完成。例如,半导体封装在高压高湿下,湿气会沿胶体或导线架接口渗入,导致金属腐蚀或引脚短路,HAST可快速暴露此类缺陷。

非饱和湿度控制

与饱和高压加速老化试验箱不同,非饱和型可调节湿度(如75%RH),模拟更接近实际使用场景的湿度条件,适用于对湿度敏感的材料测试。

多环境应力耦合

结合温度、湿度、压力及可选偏压(如8~55条偏压端子),模拟复杂环境应力,全面评估产品性能。

二、技术特点

高精度环境控制

温湿度波动度:±0.5℃/±2.5%RH(非饱和模式)非饱和快速老化试验箱

均匀度:±0.5℃/±5%RH

分辨率:温度0.1℃、湿度0.1%RH、压力0.1kg/cm²

确保实验数据准确性和可重复性。

安全与稳定性设计

配备压力安全阀、超压保护器、过热保护及无水干烧保护装置。

采用SUS316L不锈钢箱体,耐腐蚀性强。

支持缓降压、排气、排水功能,避免试验后压力温度急变影响结果。

智能化操作

支持电脑连接,USB数据导出与曲线保存。

人性化界面,操作简单,便于设置参数和读取数据。

三、应用领域

电子行业

测试IC半导体、连接器、线路板、磁性材料等在高温高湿下的稳定性。

评估电子元器件的耐湿性、气密性及封装可靠性。

汽车产业

模拟电动汽车电池及管理系统在恶劣环境下的耐久性。

测试汽车零部件(如传感器、线束)的密封性能。

航空航天

模拟高海拔、高温工作条件,确保材料可靠性。

测试航空电子设备在恶劣环境下的性能。

其他领域

光伏组件、高分子材料、EVA等材料的加速老化寿命试验。

制药行业:检测药品包装的密封性。

四、技术标准与合规性

满足国际标准:

IEC60068-2-66(环境试验第2部分:未饱和高压蒸汽恒定湿热)

JESD22-A102E(加速水汽抵抗性——无偏置高压蒸煮)

JESD22-A110E(高加速温湿度应力试验)

符合GB/T2423.40-2013等国内标准,确保测试结果恶劣性。

五、市场意义与优势

缩短研发周期

传统老化测试需数年,HAST可在数天内完成,加速产品迭代。

降低测试成本

通过高效加速老化,减少样品数量和测试时间,节省资源。

提升产品质量

快速暴露产品缺陷,为设计改进提供依据,增强市场竞争力。

支持定制化需求

可根据客户产品定制专用产品架,适应不同测试场景。

六、非饱和快速老化试验箱典型设备参数(以某型号为例)

参数规格

内箱容积¢300×D450、¢400×D550

温度范围105℃~155℃(可选)

压力范围0.2~3.5kg/cm²

湿度范围65%~100%RH(可调)

温湿度波动度±0.5℃/±2.5%RH(非饱和模式)

测试时间最多连续600小时

偏压端子标配8条(可选8~55条)关注技术参数

根据测试需求选择温度、压力、湿度范围及控制精度。

评估安全功能

优先选择具备多重安全防护(如超压保护、过热保护)的设备。

考虑智能化需求

支持数据导出、曲线保存及远程监控的设备可提升测试效率。


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