线路板专用非饱和 HAST 试验设备

一、产品概述

线路板专用非饱和 HAST 试验设备俗称 HAST 箱，分为非饱和 HAST、B?HAST 带偏压、U?HAST 无偏压模式，部分机型兼容 PCT 饱和高压蒸煮测试。设备在密闭压力容器内营造高温、高压、非饱和高湿环境，利用温度、湿度、压力三重应力加速水汽渗透，快速激发塑封半导体、PCB、元器件因湿气引发的封装分层、绝缘漏电、离子迁移、腐蚀失效；相比传统 85℃/85% RH（THB）长期湿热测试，大幅缩短可靠性验证周期，是半导体、汽车电子行业可靠性认证核心设备。

区分说明：

HAST（非饱和）：湿度可调，箱内控制无大量结露，支持偏压 B?HAST 带电测试，适合车规芯片、PCB 绝缘失效测试。

PCT（饱和蒸煮）：100% RH 饱和蒸汽，一般不做带电偏压，多用于材料耐水解、封装密封性测试。

二、执行标准

GB/T 2423.40 电工电子产品环境试验 试验 Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

IEC 60068?2?66 环境试验 试验 Cx 稳态湿热

JESD22?A110 JEDEC B?HAST 带偏压高加速应力测试

JESD22?A118 JEDEC U?HAST 无偏压 HAST 测试

AEC?Q100 汽车电子元器件可靠性（车规 HAST 测试）

三、线路板专用非饱和 HAST 试验设备系统结构

压力容器腔体：双层圆筒式压力罐体，内胆 316L 不锈钢，圆弧结构减少冷凝滴水；带压力联锁门锁，腔体带压状态门锁自锁无法开启，压力容器按特种设备规范设计制造。

蒸汽发生与气路系统：独立蒸汽发生器，配合干燥压缩空气调配，实现非饱和湿度控制，区别纯饱和蒸汽 PCT。

测控系统：温度、湿度、压力三路独立 PID 闭环控制；铂电阻温度传感器、压力变送器、湿度传感器；触摸屏人机界面，可设定试验时间、循环程序，记录温湿压全过程数据。

给排水系统：自动补水、水位检测、废水排放；要求使用去离子纯水，防止水垢腐蚀腔体。

安全保护系统（核心）：超温保护、超压泄压阀、缺水保护、过载保护、压力联锁门锁、紧急停机、声光报警；停机自动泄压排气功能。

样品架组件：耐腐蚀样品托架，适配芯片、PCB 板、元器件摆放；选配偏压测试工装。

四、核心产品优势

加速效率高：三重应力叠加，加速因子远高于传统 THB 双 85 湿热试验，数百小时完成原本数月的湿热老化验证，缩短研发认证周期。

非饱和无大量结露：HAST 非饱和模式控制凝露，避免样品表面积水短路，保障 B?HAST 带电偏压测试有效性。

三参数独立可控：温度、湿度、压力分开调节，可切换 U?HAST、B?HAST，部分机型兼容 PCT 饱和蒸煮，一机多用。

测试重复性好：闭环 PID 控制，温湿压稳定输出，满足 JEDEC、车规认证对试验环境一致性要求。

安全防护：压力容器全套安全联锁机制，7×24 小时长时间连续运行。

可定制化能力：扩容腔体、增加偏压端子路数、上位机远程通讯、定制专用测试工装。

五、应用行业与测试对象

半导体芯片行业：塑封 IC、分立器件，封装抗湿气可靠性验证（U?HAST / B?HAST）

PCB&PCBA 行业：线路板 CAF 导电阳极丝、绝缘劣化、离子迁移测试

汽车电子行业：车规元器件、传感器、车载模组，AEC?Q100 认证 HAST 试验

光电行业：LED 器件、光电器件湿热加速老化

军工电子：高可靠电子元器件耐湿应力可靠性验证

六、选配功能清单

B?HAST 偏压测试模块：多路绝缘偏压端子，样品带电老化测试；端子数量按需选配

上位机软件：以太网通讯，电脑监控、导出完整试验曲线

大容量腔体定制：非标容积定制

专用样品工装夹具：芯片、PCB 板固定架

外置去离子水装置配套供水系统