线路板专用非饱和 HAST 试验设备俗称 HAST 箱，分为非饱和 HAST、B?HAST 带偏压、U?HAST 无偏压模式，部分机型兼容 PCT 饱和高压蒸煮测试。设备在密闭压力容器内营造高温、高压、非饱和高湿环境，利用温度、湿度、压力三重应力加速水汽渗透，快速激发塑封半导体、PCB、元器件因湿气引发的封装分层、绝缘漏电、离子迁移、腐蚀失效；相比传统 85℃/85% RH（THB）长期湿热测试，

高压蒸煮试验箱又称PCT 高压加速老化试验箱（Pressure Cooker Test），属于压力容器类环境可靠性设备，在密闭腔体内加热纯水产生高温高压饱和水蒸气，以高温、高压、100% RH 饱和湿气形成强渗透应力，加速材料水解、界面失效，短时间模拟自然环境数年湿热老化效果，快速暴露密封、粘接、封装、耐水解缺陷。

PCT高温高湿蒸煮仪（又称PCT高压加速老化试验箱或HAST试验机）是一种用于模拟高温、高湿及高压环境，测试产品在此类气候条件下的贮存、运输和使用性能的试验设备。

非饱和高温蒸煮试验箱（HAST，Highly Accelerated Stress Test Chamber）是一种通过模拟高温、高湿及高压环境，对材料或产品进行加速老化测试的设备。

非饱和快速老化试验箱（HAST非饱和高压加速老化试验箱）是一种通过模拟高温、高湿及高压环境，加速材料或产品老化过程的实验室设备，广泛应用于电子、汽车、航空航天等领域，用于评估产品在恶劣环境下的可靠性和耐久性。

PCT加速老化试验箱，全称为Pressure Cooker Test（PCT），是一种专门用于模拟高压、高湿、高温等恶劣环境条件下产品老化过程的设备。它通过**控制试验箱内的环境参数，如温度、湿度、气压等，加速产品的老化过程，从而评估产品在长时间使用后的性能表现和可靠性