HAST高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验箱适用于IC、PCB、LCD Board、电池、电容、电阻,及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验, 比较传统之恒温恒湿设备85/85%R.H.试验时, 可以节省大量时间, 当测试温度越高, 压力越大,测试时间缩短越多, 在质量检验上大量节省电力, 人力, 物力, 提升产品竞争力.有多种型号可选择。

产品特点：

1.采用耐高温电磁阀双路结构，在大程度上降低了使用故障率。

2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3.门锁电控制动结构，解决产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

a.独特的无结露设计

b抽屉式滑动托盘设计

c.饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式

d.电子自动门锁紧结构

e.多种排气方式

f.可依据客户需要，选配不同试验夹具 

g.采用无风扇内部加热循环，确保长期使用无集尘产生。

4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

试验腔杜绝凝露结构设计，试验腔室干燥设计。                  

5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转999小时.

6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7.耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置

9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10.常规配备20组偏压测试端子，内外3.0快插设计（可增容）

11.USB导出历史记录数据，曲线.

HAST高压加速老化试验箱性能参数：

设定温度：+100 ℃～ +147 ℃( 蒸气温度 )

湿度范围：75~100% 蒸气湿度

湿度控制稳定度：±3%RH

使用压力：1.2~2.89kg(含1atm)

时间范围：0 Hr ～ 999 Hr

加压时间：0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

温度波动均匀度：±0.5℃

温度显示精度：0.1℃

压力波动均匀度：±0.1Kg

湿度分布均度：±3%RH

试验箱材质：

试验箱尺寸: HAST-50（∮500mm x L550 mm）圆型试验箱

全机外尺寸: 830x1050x1750 mm ( W * D * H )立式

内桶材质: 不锈钢板材质（SUS# 316  3 mm）

内腔干燥板：铜基+双层镍≥25um+低电流+磷10%-12%1+有机硅/PTFE封孔

外桶材质: 不锈钢板材质或选喷塑

保温材质：岩棉及硬质polyurethane发泡保温

蒸汽发室加热管：钛管加热