芯片冷热冲击试验箱用于电工电子电器机械等零组件、自动化零部件、国防工业行业、航空航天研究所、兵工业、通讯产品或组件、汽车成品或配件、金属材料、化学材料、五金塑胶、LED、LCD光电、光伏、照明、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对冷、热温的快速反复抵抗力及工业产品处于热胀冷缩的环境时所出现的化学变化或者物理伤害。

锂离子电池高低冲击试验箱，也被称为高低温冲击试验箱或冷热冲击试验箱，是一种用于测试锂离子电池在温度环境下的性能和可靠性的设备。该设备通过加热及制冷系统实现箱体内的环境温度的控制及变化，模拟产品所需环境温度及交变程序，从而测试锂离子电池在快速温度变化下的性能表现。

冷热冲击试验机广泛应用于电子、汽车、航空、航天、*等领域。在电子产品领域，它主要用于测试电子元器件、集成电路、电路板等产品在温度环境下的性能表现，以确保产品在实际使用中能够稳定可靠地工作。

电路板冷热冲击箱是一种用于测试电子产品、线路板、电路板等在温度条件下的性能和稳定性的设备。它通过模拟实际使用环境中可能遇到的温度变化，将样品置于高温和低温的环境中交替进行冷热冲击测试，以评估被测试物料的耐热性、耐寒性、热稳定性等。

两箱冷热冲击试验箱，也称为双箱式冷热冲击试验机，是一种用于模拟产品在温度条件下快速转换的环境测试设备。这种设备主要由两个独立的箱体组成：一个高温箱和一个低温箱，以及一个能够快速转移样品的转移室（或称为测试区、中间室）。通过这种设计，试验箱能够实现在高温与低温之间迅速切换，以模拟产品在温度变化下的工作环境，从而评估产品的耐候性、可靠性及稳定性。

温度冲击试验箱GJB 150.5是指遵循中华人民共和国国家**标准GJB 150.5（或其后续版本如GJB 150.5A-2009）进行温度冲击试验的设备。这些标准规定了**设备在温度急剧变化环境下的试验方法，旨在评估设备在温度条件下的适应性和可靠性。